直观经济的台式粗糙度计量设备

ContourX-100光学轮廓仪是准确和可重复的非接触式表面计量设备。

该小尺寸系统采用流线型设计，结合了数十年布鲁克白光干涉仪（WLI）创新，可提供毫不逊色的2D / 3D高分辨率测量功能。满足计量要求的台式系统具有业界先进的友好用户界面，可直观访问多种预编程滤镜和分析工具，用于加工的表面，薄膜和摩擦学应用分析。

快速、可重复的三维计量

*与放大倍率无关Z轴分辨率

*大尺寸的标准视场

*高稳定性和重复性的集成防震设计

高性能的测量和分析功能

*易于使用的界面，可快速准确地获得结果

*广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析

*满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告