广州维奥信息
M4 TORNADO PLUS超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 PLUS
M4 TORNADO PLUS超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 PLUS图片
型号:M4 TORNADO PLUS
品牌:Bruker/布鲁克
产地:上海市
价格区间:100万-150万
能量分辨率:< 145eVeV
行业专用类型:通用
仪器种类:台式/落地式
应用领域:农林牧渔,地矿,电子/电池
元素分析范围:C(6)~Am(95)
留言咨询
产品介绍

M4 TORNADO PLUS  产品简介:


超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS是布鲁克微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO 系列的新产品,拥有更多特性和功能,例如可检测出C(6)- Am(95)间全部元素的*性能、创新性的孔径管理系统,高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台等。

产品特点:

·  超轻元素窗口SDD探测器,可检测到轻质元素,如碳元素等

·  高通量脉冲处理器,有效减少测样时间,提高测试效率

·  孔径管理系统,更大景深,对表面不平整样品分析具有特别的优势

·  快速灵活的样品台(可选),模块化的样品台接口,减少样品的更换和准备时间

·  配备准直器的**个X射线光管(可选),四种光斑尺寸,高能量线性分析更灵活

·  氦气吹扫功能(可选),增加元素的分析范围,在常压下进行轻质元素分析

应用实例:

1、超轻元素探测器区分萤石和方解石

萤石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟(F),氧(O),碳(C),因此无法使用普通的X射线光谱仪来进行检测区分。M4 TORNADO PLUS具备超轻元素探测器,可以有效的检测到氟(F)、氧(O)和碳(C)元素,从而可靠地鉴别这两种矿物。

2、在孔径管理系统(AMS)下分析电路板

M4 TORNADO PLUS 所具备的孔径管理系统(AMS)能够有效提高景深和空间分辨率,景深可达±5mm。这意味着即使样本表面高度在几毫米内变化,空间分辨率也不会受损,并且始终保证聚焦样品特征处。这使得本设备在面对一些对表面分析有更高要求的行业样本时更具优势,例如电子学,刑侦或地球科学等。

由于AMS的场深度极深,如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外,由于激发X射线光子的入口和出口角度减小,光束能量依赖性变得不那么明显

更多应用案例

M4 Tornado 系列的微区X射线荧光光谱仪具有广泛的应用环境,目前已经在植物环境、科技考古、地球科学、材料科学、生物工程等领域有着诸多的应用案例。该设备在国内外有专业的应用开发人员,专注于新应用领域的开发。

相关产品
×

*留言类型

*留言内容

*联系人

*手机号

*单位名称

电子邮箱

*验证码