MAXIM二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。

·光栅控制，增强深度分析能力 ·所有能量范围内，离子行程的小扰动，及恒定离子传输 ·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ·

​质量数范围： 300amu，500amu，1000amu ·检测器： 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps ·质量过滤器： 3F四级杆 ·杆直径： 9mm ·加热： 250℃ ·离子源： 电子轰击，可用于SNMS和RGA的单根灯丝

MAXIM二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。 ·光栅控制，增强深度分析能力 ·所有能量范围内，离子行程的小扰动，及恒定离子传输 ·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ·质量数范围： 300amu，500amu，1000amu ·检测器： 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps ·质量过滤器： 3F四级杆 ·杆直径： 9mm ·加热： 250℃ ·离子源： 电子轰击，可用于SNMS和RGA的单根灯丝