ENT- 5

5 **代 “ENT”

通过减少测量环境的干扰实现高数据再现性

由于纯国产，得以实现的亲民GUI适用于 0.5µN-2,000 mN 的广泛试验负载

特徴

●知道所有材料的硬度

●薄膜材料，如电镀、硬膜等

●树脂材料，薄膜材料

●极薄膜，如DLC

●功能树脂膜和表面改性层

●微粒和粉末材料

●纳米张力试验

●获得薄膜、极表面、微小区域的硬度· 弹性模量等机械性能

●分析载荷和位移曲线以求特性，无需压力痕迹观察

●符合ISO 14577-1/JIS Z 2255 标准

●可测量的材料

1. 温度管理机制

●抑制样品、试验机的热膨胀

●风挡内部進行士0.1℃的温度管理

●测量部件使用低热膨胀材料（诺维奈特）

●减少外部气流的影响

2. 高精度定位平台

●采用本公司开发的用于电子束绘图设备的高精度舞台技术

●0.1 µm 最小移动距離

●观察倍率以2,000 倍测定任意位置（20 倍标准物镜，配合使用数字变焦）

3. 除振机构

●抗振动高精度楔形移动平台

●标配主动式减震器

4.软件

●压头校正、温度漂移校正、日常检查提醒等辅助功能

●久经考验的易用性

5.数据可重复性

●抑制振动和温度变化等干扰影响的机构，提高了数据再现性

●连续测量也能获得稳定的数据

6.维护性

●高负荷单元、低负荷单元易于更换

●通过更换设备校准减少了设备停机时间